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Carte de sonde verticale

Notre vaste expertise dans la conception et la fabrication de cartes à sondes verticales garantit des performances supérieures dans les tests de plaquettes. Les cartes à sonde verticale sont conçues pour s'adapter à des courants et des fréquences plus élevés, offrant ainsi une meilleure intégrité du signal et de l'alimentation.

À propos des caractéristiques de la carte à sonde verticale

  • Options de sonde polyvalentes : Comprend des sondes MEMS verticales et verticales adaptées à des pas aussi fins que 80 µm.
  • Réseaux à grille fine : Prend en charge les réseaux de grilles avec des pas allant jusqu'à 80 µm, facilitant des tests multisites approfondis (X8 à X16).
  • Nombre de broches ultra élevé : Accepte un nombre de broches allant de 20,000 30,000 à XNUMX XNUMX broches.
  • Sondage Flip-Chip Bump et pilier Cu : Optimisé pour les deux types de sondes, capable de transporter jusqu'à 1A par sonde.
  • Compatibilité haute température : Assure une force de sondage minimale, préservant l’intégrité et la fiabilité du capuchon de soudure dans les processus d’emballage back-end.

Comparaison des capacités des sondes de la carte à sonde verticale

Spécifications de la sonde
Type de sondeMEMSCobra φ 75Cobra φ 63Cobra φ 50.8Cobra φ 41Fil φ 30Fil φ 20
Matériau de la sondeAlliage de nickel/alliage de palladiumP7/P7+P7/P7+P7/P7+P7/P7+P7/P7+P7/P7+
Pas minimum40um150um125um100um80um50um40um
DO recommandéePersonnalisé150um120um100um80um70um60um
Forme de la pointePlat/pointu/rondPlat/pointu/rondPlat/pointu/rondPlat/pointu/rondPlat/pointu/rondPlat/pointu/rondPlat/pointu/rond
Force de contact (@ 0D 50um)Personnalisé5 ± 2.5gf4 ± 2gf3 ± 1.5gf2 ± 1gf1.5 ± 1gf0.7 ± 1gf
Capacité de charge actuellePersonnaliséP7:600MAP7:500MAP7:450MAP7:350MAP7:275MAP7:190MA
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