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Carte sonde MEMS

Les cartes sondes MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) jouent un rôle clé dans les tests modernes de semi-conducteurs, fournissant des contacts de test précis via des systèmes électromécaniques miniaturisés pour garantir une évaluation précise des performances des puces. Nos cartes sondes MEMS combinent une technologie avancée de micro-nano-usinage avec une conception électrique de précision pour fournir des solutions hautement fiables et précises pour un large éventail de besoins en matière de tests de puces.

Cartes sondes MEMS avancées pour les tests de plaquettes

Carte de sonde MEMS pour test de plaquettes CIS

Notre carte de sonde MEMS de test de plaquettes CIS (capteur d'image CMOS) utilise la technologie MEMS 2D avancée pour tester les produits CIS. Des milliers de sondes MEMS sont soudées au laser sur un substrat céramique, offrant une distribution de sondes haute densité exceptionnelle avec une intervention manuelle minimale.

Carte de sonde MEMS pour test de plaquettes DRAM

Notre carte sonde MEMS de test de plaquettes DRAM, optimisée avec la technologie MEMSFLEX, répond aux exigences de test de ces nouveaux dispositifs DRAM hautes performances et haute densité. Il améliore l'efficacité et réduit le coût global des tests DRAM, garantissant ainsi des performances fiables dans l'évaluation des dernières avancées en matière de technologie de mémoire.

Caractéristiques de la carte sonde MEMS

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